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一种反激式LED恒流驱动器具有检测功能的控制芯片
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{| class="wikitable" align="right" |- |<center><img src=https://p3.itc.cn/images01/20230714/663e1eabb2a1462f82f655cbbbe2d658.png width="300"></center> <small>[https://www.sohu.com/a/700034201_121195953 来自 搜狐网 的图片]</small> |} '''一种反激式LED恒流驱动器具有检测功能的控制芯片'''目前,LED 恒流驱动器多采用反激式电路结构,其内部控制芯片主要包含供电及基准模块、电流采样及 PWM 产生模块、保护及控制采样模块和逻辑及驱动模块。随着芯片[[工艺]]提升,芯片面积不断下降,当芯片出货量足够大大的时候,单芯片的制造成本不断下降,传统芯片的测试技术由于 ATE 测试复杂度上升而升级,导致现有封装后的测试成本不断上升,增加芯片外围测试[[系统]]的复杂度。同时,传统的芯片测试由于采用全参数测试,这种方式需要较高的芯片测试成本和较长的时间周期;而对于 LED 驱动芯片而言,芯片良率可达 95%左右,实际上只需要对芯片<ref>[https://www.sohu.com/a/546159585_422657 天天喊着要发展芯片,然而你真的了解芯片是什么吗?],搜狐,2022-05-12</ref>内部关键参数测试,即可判定[[芯片]]的好坏。
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