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[[File:场发射扫描电子显微镜1.jpg|缩略图|场发射扫描电子显微镜[https://atc.xmu.edu.cn/_upload/article/images/12/42/62b9e1384c07b36529ff3edb16a5/33403b05-14f0-407e-add2-26af59de2ae1.jpg 原图链接][https://atc.xmu.edu.cn/_upload/article/images/12/42/62b9e1384c07b36529ff3edb16a5/33403b05-14f0-407e-add2-26af59de2ae1.jpg 图片来源优酷网]]]
场发射扫描电子显微镜（FESEM）是[[电子显微镜]]的一种。该仪器具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子象观察及图像处理。该仪器利用二次电子成像原理，在镀膜或不镀膜的基础上，低电压下通过在纳米尺度上观察生物样品如组织、[[细胞]]、[[微生物]]以及[[生物大分子]]等，获得忠实原貌的立体感极强的样品表面超微形貌结构信息。 具有高性能x射线能谱仪，能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析，具有形貌、化学组分综合分析能力。

'''中文名''':[[场发射扫描电子显微镜]]

'''外文名''':field emission scanning electron microscope

'''具    有''':超高分辨率

'''用    于''':生物学、医学、金属材料

'''简    称''':FESEM

'''学   科''':[[机械工程]]