檢視扫描电子显微镜的原始碼

[[File:扫描电子显微镜.jpg|缩略图|[https://image.baidu.com/search/detail?ct=503316480&z=0&ipn=d&word=%E6%89%AB%E6%8F%8F%E7%94%B5%E5%AD%90%E6%98%BE%E5%BE%AE%E9%95%9C%20%20%20%E7%9F%A5%E4%B9%8E&step_word=&hs=0&pn=3&spn=0&di=83060&pi=0&rn=1&tn=baiduimagedetail&is=0%2C0&istype=2&ie=utf-8&oe=utf-8&in=&cl=2&lm=-1&st=-1&cs=2679176463%2C1236971893&os=227827287%2C3427794178&simid=0%2C0&adpicid=0&lpn=0&ln=1076&fr=&fmq=1621312249796_R&fm=detail&ic=undefined&s=undefined&hd=undefined&latest=undefined&copyright=undefined&se=&sme=&tab=0&width=undefined&height=undefined&face=undefined&ist=&jit=&cg=&bdtype=15&oriquery=&objurl=https%3A%2F%2Fgimg2.baidu.com%2Fimage_search%2Fsrc%3Dhttp%3A%2F%2Fpic3.zhimg.com%2F50%2Fv2-d5e623d55a243eca7863a8246f8bac62_hd.jpg%26refer%3Dhttp%3A%2F%2Fpic3.zhimg.com%26app%3D2002%26size%3Df9999%2C10000%26q%3Da80%26n%3D0%26g%3D0n%26fmt%3Djpeg%3Fsec%3D1623904258%26t%3Df861192e9c3359719723e79627815330&fromurl=ippr_z2C%24qAzdH3FAzdH3Fooo_z%26e3Bziti7_z%26e3Bv54AzdH3Fq7jfpt5gAzdH3Fnnncd8mad&gsm=4&rpstart=0&rpnum=0&islist=&querylist=&force=undefined 原图链接][https://www.zhihu.com/question/333521602 来自知乎]]]
'''扫描电子显微镜'''(SEM) 是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品, 通过光束与物质间的相互作用, 来激发各种物理信息, 对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm;放大倍数可以达到30万倍及以上连续可调;并且景深大, 视野大, 成像立体效果好。此外, 扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合, 可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在[[岩土]]、[[石墨]]、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。因此扫描电子显微镜在科学研究领域具有重大作用