檢視透射电子显微镜的原始碼

[[File:透射电子显微镜.jpeg|有框|右|<big>透射电子显微镜</big>[http://101.201.233.138:8100/admin/static/uploadfiles/20170413/c018e6e9-b56f-45c1-8584-3c38f39d6cb6.jpg 原图链接][http://www.jeol.com.cn/product/detail/124 来自 捷欧路（北京）科贸有限公司官方网 的图片]]]

'''透射电子显微镜'''（英语：Transmission electron microscope，缩写：TEM、CTEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，[[电子]]与样品中的[[原子]]碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像将在放大、聚焦后在成像器件（如[[荧光屏]]、[[胶片]]、以及感光耦合组件）上显示出来。

由于电子的德布罗意波长非常短，透射电子显微镜的分辨率比[[光学显微镜]]高的很多，可以达到0.1～0.2 nm，放大倍数为几万～百万倍<ref>[https://www.docin.com/p-1353312169.html 透射电镜的应用 ]，豆丁网</ref>。因此，使用透射电子显微镜可以用于观察样品的精细结构，甚至可以用于观察仅仅一列原子的结构，比光学显微镜所能够观察到的最小的结构小数千倍。TEM在[[物理学]]和生物学等相关的许多科学领域中都是重要的分析方法，如癌症研究、[[病毒学]]、[[材料科学]]、以及[[纳米技术]]、半导体研究等等。

在放大倍数较低的时候，TEM成像的对比度主要是由于[[材料]]不同的厚度和成分造成对电子的吸收不同而造成的。而当放大率倍数较高的时候，复杂的波动作用会造成成像的亮度的不同，因此需要专业知识来对所得到的像进行分析。通过使用TEM不同的模式，可以通过[[物质]]的化学特性、晶体方向、电子结构、样品造成的电子相移以及通常的对电子吸收对样品成像。

第一台TEM由马克斯·克诺尔和[[恩斯特·鲁斯卡]]在1931年研制，这个研究团队于1933年研制了第一台分辨率超过可见光的TEM，而第一台商用TEM于1939年研制成功。