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[[File:X光散射技术.jpeg|有框|右|<big>X光散射技术</big>[https://pic1.zhimg.com/80/v2-66e470fb4bb66a0b2c623d86f3274228_720w.jpg 原图链接][https://zhuanlan.zhihu.com/p/87256863 来自 知乎 的图片]]]

'''X光散射技术'''('''英語: X-ray scattering technology''' )，或X射线衍射技术（英语：X-ray scattering techniques）是一系列常用的非破坏性分析技术，可用于揭示物质的晶体结构、[[化学]]组成以及物理性质。这些技术都是以观测X射线穿过样品后的散射强度为基础，并根据散射角度、极化度和入射X光波长对实验结果进行分析。X光散射技术可在许多不同的条件下进行分析，例如不同的温度或压力。

==X光衍射技术==

X光衍射（X-ray diffraction）技术可以用于研究[[分子]]的构象或形态。X光衍射技术是基于X光在穿过长程有序物质所发生的弹性散射。“衍射动力学理论”对晶体的散射现象给出了更为复杂的描述。以下列出的是X光衍射的相关技术：

单晶X射线衍射：用于解析晶态物质中分子的整体结构，研究范围可以从小的无机小分子到复杂的大分子，如[[蛋白质]]；可用单色性X光（德拜法）或连续波长X光（即“劳厄法”）进行研究。

粉末衍射：也是一种获得晶体（微晶）结构的方法，所用样品为多晶态或粉末固态晶体。粉末衍射通常用于鉴定未知物质，主要通过将衍射数据与衍射数据国际中心（International Centre for Diffraction Data，ICDD）中的衍射数据库进行比较。这一技术或可用于鉴定非均一态的固体混合物，确定其中含量相对丰富的晶态物质；而且，当与网格修正技术（如Rietveld修正）连用时，还可以提供未知物质的结构信息。粉末衍射也是确定晶态物质晶系的常用方法，并可用于测定晶体颗粒的大小。

薄膜衍射。

X射线极图分析：用于分析和测定晶态薄膜样品中晶态方位。X射线回摆曲线分析法：用于定量测量晶态物质的粒度大小和镶嵌度散布。

即使是非晶态物质（非长程有序），也可能可以用依赖于单色性X光的弹性散射的方法来研究：

小角X射线散射：在散射角2θ接近0°时，对样品的X射线散射强度进行测量，以获取[[纳米]]到微米量级上的分子结构信息<ref>[https://www.doc88.com/p-77284272551.html?r=1 小角X光散射-X射线测试的原理与方法课件 ]，道客巴巴 ，2009-11-27</ref>。

X射线反射率：用于分析和测定单层或多层薄膜的厚度、粗糙度和密度。

广角X射线散射：测量散射角2θ大于5°。

==非弹性散射==

当非弹性散射的X射线的能量和角度被监测时，相关的散射技术就可以用于探测物质的能带结构：

康普顿散射。
v3267kriazs射。

X射线拉曼散射。

==视频==
===<center> X光散射技术 相关视频</center>===
<center>什么是直射光？什么是散射光？怎么遮阴？养花光照讲解。</center>
<center>{{#iDisplay:v3267kriazs|560|390|qq}}</center>

<center>CT和X光的区别</center>
<center>{{#iDisplay:z0861gcvz48|560|390|qq}}</center>

==参考文献==
[[Category:330 物理學總論]]