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| 谱线强度 |
表示光谱线能量的物理量。由于原子的固有性质以及周围物理环境对它的影响，任何发射谱线或吸收谱线都有一定的宽度与轮廓，即谱线强度分布在一定频率范围内（见谱线增宽）。
简介
式(1)、(3)、(4)和(5)给出了发射谱线的绝对强度。可见,谱线强度正比于玻耳兹曼因子exp(-En/kT)和基态的布居数。因此，谱线强度随En的增高而降低，这说明在一个谱线系内，谱线强度向线系限（见连续光谱）方向逐渐递减。谱线强度与温度的关系是，一方面由玻耳兹曼因子exp(-En/kT)决定了其随温度增高而增高,另一方面，由于谱线强度同基态布居数的关系，而随温度的增高而降低,结果使谱线强度先随温度的增高而增高,继而随温度增高而降低，其间谱线强度必然有一极大值。极大值所对应的温度称为该谱线的极值温度或标准温度。当光源对某发射谱线有自吸收时（光性厚时），不能简单地给出谱线强度的表示式。此时，必须用辐射转移方程，同时考虑发射和自吸收来进行计算。谱线绝对强度也可以用量子力学进行理论计算。谱线强度Inm正比于自发发射跃迁几率Anm。在偶极辐射情况下，Anm正比于电偶极矩er的跃迁矩阵元。因此如果能够得到足够好的波函数 ψ，就可以从理论上计算谱线的跃迁几率，从而给出谱线绝对强度的理论值。
评价
实验测量发射谱线的绝对强度时，需要绝对定标。一般用一个已知光强按频率分布的标准光源与待测光源作比较进行测量。同时还要从实验上校正光谱仪的分辨率、仪器的反射和吸收引起的能量损失、探测器的绝对灵敏度等有关参量通过谱线的绝对强度或相对强度的测定，可以确定谱线的跃迁几率以及光源的温度。也可以通过实验方法测定吸收谱线的强度，但比较困难。[1]