電子器件的電離輻射效應

來自 孔夫子網 的圖片

《電子器件的電離輻射效應》，副標題：從存儲器到圖像傳感器，[意] 馬爾塔·巴吉安，西蒙尼·傑拉爾丁 編，畢津順，於慶奎，丁李利，李博 譯，出版社： 電子工業出版社。

電子工業出版社成立於1982年10月，是工業和信息化部直屬的科技與教育出版社，每年出版新書2400餘種，音像和電子出版物400餘種，期刊8種，出版物內容涵蓋了信息科技的各個專業分支以及工業技術、經濟管理、大眾生活、少兒科普等領域，綜合出版能力位居全國出版行業前列。

目錄

內容簡介

本書完整地涵蓋了現代半導體的電離輻射效應，深入探討了抗輻射加固技術。首先介紹輻射效應的重要背景知識、物理機制、仿真輻射輸運的蒙特卡羅技術和電子器件的輻射效應。重點闡述以下內容：商用數字集成電路的輻射效應，包括微處理器、易失性存儲器（SRAM和DRAMD和閃存；數字電路、現場可編程門陣列（FPGA）和混合模擬電路中的軟錯誤效應、總劑量效應、位移損傷效應和設計加固解決方案；纖維光學和成像器件（包括CMOS圖像傳感器和電荷耦合器件CCD）的輻射效應。

本書可給予剛進入本領域的研究人員指導，供電路設計者、系統設計者和可靠性工程師學習，也可以作為資深科學家和工程師的參考書。還可以作為該領域本科生、碩士生、博士生和教師學習或教授電子器件電離輻射效應基礎知識的參考書。

作者介紹

馬爾塔·巴吉安（Marta Bagatin），畢業於意大利帕多瓦大學，2006年獲得電子工程專業學士學位，2010年獲得信息科學與技術專業博士學位。她目前作為博士後，就職於意大利帕多瓦大學信息工程系。她的研究興趣主要是電子器件的輻射效應和可靠性，特別關注非易失半導體存儲器。在輻射效應和可靠性領域，Marta 以第一作者或共同作者身份在國際期刊上發表論文約40篇，在國際會議上發表論文約50篇，撰寫過兩部專著的部分章節。她還經常作為核與空間輻射效應會議（NSREC)以及器件與系統的輻射效應會議（RADECS)等國際會議的委員，也是諸多學術期刊的審稿人。