UVM芯片驗證技術案例集

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《UVM芯片驗證技術案例集》，馬驍 著，出版社： 清華大學出版社。

清華大學出版社成立於1980年6月，是教育部主管、清華大學主辦的綜合性大學出版社。清華社先後榮獲 「先進高校出版社」「全國優秀出版社」「全國百佳圖書出版單位」「中國版權最具影響力企業」「首屆全國教材建設獎全國教材建設先進集體」等榮譽。

目錄

內容簡介

本書是基於UVM驗證方法學的針對芯片驗證實際工程場景的技術專題工具書，包括對多種實際問題場景下的解決專題，推薦作為UVM的進階教材進行學習。

不同於帶領讀者學習UVM的基礎用法，本書分為多個專題，每個專題專註解決一種芯片驗證場景下的工程問題，相關技術工程師可以快速參考並復現解決思路和步驟，實用性強。本書詳細描述了每個專題要解決的問題、背景，解決的思路、基本原理、步驟，並給出了示例代碼供參考。

本書適合具備一定基礎的相關專業的在校大學生或者相關領域的技術工程人員進行閱讀學習，書中針對多種芯片驗證實際工程場景給出了對應的解決方法，具備一定的工程參考價值，並且可以作為高等院校和培訓機構相關專業的教學參考書。

作者介紹

馬驍，東南大學集成電路專業碩士，已申請芯片驗證領域多個專利，網易雲課堂「芯片驗證：UVM理論與實戰」「芯片驗證：Python腳本理論與實戰」等課程的作者。