刘海军查看源代码讨论查看历史
刘海军，1987年生，博士，合肥工业大学机械工程学院讲师，硕士生导师。2016年10月毕业于大连理工大学机械工程学院机械制造及其自动化专业，获得工学博士学位；2016年10月进入合肥工业大学机械工程学院工作。
人物履历
教育经历
2009/09-2016/10，大连理工大学，机械工程学院，博士，导师康仁科教授
2005/09-2009/06，山东大学，机械工程学院，学士
研究方向
精密加工理论与技术，测量方法与技术
开设课程
《互换性与测量技术》《精密、超精密加工与检测》
近年的科研项目、专著与论文、专利、获奖
科研项目
国家自然科学青年基金项目(51805135)：基于硅片整体变形的磨削亚表面损伤定量评价方法研究，2019.01 - 2021.12.
中央高校基本科研业务费项目(JZ2017HGBZ0956)，非线性域残余应力作用下的硅片变形规律研究，2017.05-2019.04。
获奖情况
2019年09月，获得合肥工业大学青年教师教学基本功比赛三等奖
2018年07月，获得合肥工业大学机械工程学院优秀班主任称号
学术成果
论文
Haijun Liu, Jiang Han, Xiaoqing Tian, Fangfang Dong, Shan Chen, Lei Lu*. Accurate determination of bifurcation points for ground silicon wafers considering anisotropy using FEM method [J]. Materials Research Express, 2019,6(9): 095906. (SCI 检索号： 000474934500002）
Haijun Liu, Xianglong Zhu, Renke Kang, Zhigang Dong, Xiuyi Chen. Three-point-support method based on position determination of supports and wafers to eliminate gravity-induced deflection of wafers [J]. Precision Engineering, 2016,46:339-348. (SCI检索号：000382344600032)
Haijun Liu, Zhigang Dong, Han Huang, Renke Kang, Ping Zhou. A new method for measuring the flatness of large and thin silicon substrates using a liquid immersion technique [J]. Measurement Science and Technology, 2015,26:115008. (SCI检索号：000366349200009)
Haijun Liu, Zhigang Dong, Renke Kang, Ping Zhou, Shang Gao. Analysis of factors affecting gravity-induced deflection for large and thin wafers in flatness measurement using three-point-support method [J]. Metrology and Measurement Systems, 2015,22(4),531-546. (SCI检索号：000367003000007)
刘海军，朱祥龙，康仁科，董志刚. 反转法消除硅片重力附加变形适用性研究[J]. 人工晶体学报. 2015, 44(12): 3439. (EI检索号：20161202133309)
Haijun Liu, Renke Kang, Shang Gao, Ping Zhou, Yu Tong, Dongming Guo. Development of a measuring equipment for silicon wafer warp [C]. Advanced Materials Research, 2013,797:561-565. (EI检索号：20134316904723)
发明专利
康仁科，董志刚，刘海军，佟宇，郭东明. 一种薄基片变形的测量方法与装置, 201310187846. 6 [P]. 发明类别：发明专利，授权日期：2016,01,06.
董志刚、康仁科、刘海军、高尚、朱祥龙、周平、陈修艺. 一种消除重力影响的薄基片变形测量方法, 201510496479.7 [P]. 发明类别：发明专利，公开日期：2015,11,18.[1]