电子设备板级可靠性工程查看源代码讨论查看历史

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《电子设备板级可靠性工程》，王文利 著，出版社： 电子工业出版社。

电子工业出版社成立于1982年10月，是工业和信息化部直属的科技与教育出版社，每年出版新书2400余种，音像和电子出版物400余种，期刊8种，出版物内容涵盖了信息科技的各个专业分支以及工业技术、经济管理、大众生活、少儿科普等领域，综合出版能力位居全国出版行业前列。

内容简介

本书针对电子设备板级可靠性工程问题，阐述了板级可靠性工程中需要开展的主要工作，包括选择可靠的元器件、可靠地使用元器件、板级可靠性工程设计（DFX）、板级组装工艺可靠性、单板常见失效模式及失效机理、板级可靠性试验与测试、板级失效分析等。通过选择可靠的元器件、开展可靠性设计、保障可靠性制造，达到保证板级可靠性的目的，同时，针对板级可靠性要求进行试验和测试，针对板级失效做好失效分析。本书可作为电子产品硬件设计、可靠性设计、工艺设计、测试、CAD、质量与可靠性管理等相关行业的工程技术人员、科研人员的参考书，也可作为高等院校电子相关专业的教师、学生的教学参考书。

作者介绍

王文利,男,1971年出生,工学博士、博士后、教授，主要从事电子可靠性研究。博士期间参与"500米口径大射电望远镜FAST”（天眼）项目研究，获省级科技进步一等奖；曾任职华为技术有限公司，主持建立公司工艺可靠性技术平台；先后主持和参与10 余项国家、省、市级项目，已发表相关论文40 余篇，出版专著及教材5部。