紫外可見近紅外顯微分光光度計

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紫外可見近紅外顯微分光光度計紫外可見近紅外顯微分光光度計（CRAIC QDI2010）CRAIC QDI 2010全光譜（紫外/可見/紅外）顯微分光光度計是目前世界上光譜範圍最寬的顯微分光光度系統，也是目前唯一採用冷卻科研級數碼CCD的顯微分光光度系統。不僅能夠獲得顯微樣品的高質量顯微圖像，還可以對樣品進行微小區域全光譜（紫外－可見光－近紅外）測量。QDI系列顯微分光光度計分析系統以其無與倫比的質量性能，簡單易用的操作界面和專業化的售後服務為顯微學和光譜學開闢了嶄新的應用空間。

目錄

二、儀器參數

1.蔡司科研級顯微鏡。

2.全光譜一次掃描，波長最大範圍從200nm-2010nm；光譜採樣面積：2-50微米；高清晰度圖象採集：1280X1024 彩色感光點陣；高灰度級：16位灰度；精細光譜，光譜帶寬：0.32nm；高光譜分辨率：1 到 15nm 可調；波長自動校準；全譜掃描時間：最小1毫秒；高信噪比：2000：1；寬動態範圍：50000：1。

3.熒光激發光365nm,405nm,436nm,546nm。

4.科研級致冷陣列檢測器。

三、主要功能

顯微分光光度分析系統結合了顯微學及光譜學的優勢，實現了對顯微樣品的無損光譜測量及光譜分析。目前已用於石油，煤炭，生物學，半導體科學，材料科學，工業質量控制及刑事科學等。