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显微镜
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Category:302 科學參考工具
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原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,簡稱AFM)用來探測樣本表面與探針交互作用力,推出探針到樣本表面的距離,因此可「看」到非金屬或金屬表面。
[[Category:302 科學參考工具]]
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