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X光散射技术

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[[File:X光散射技术.jpeg|有框|右|<big>X光散射技术</big>[https://pic1.zhimg.com/80/v2-66e470fb4bb66a0b2c623d86f3274228_720w.jpg 原图链接][https://zhuanlan.zhihu.com/p/87256863 来自 知乎 的图片]]]
'''X光散射技术''' ('''英語: X-ray scattering technology''' ), 或X射线衍射技术(英语:X-ray scattering techniques)是一系列常用的非破坏性分析技术,可用于揭示物质的晶体结构、[[化学]]组成以及物理性质。这些技术都是以观测X射线穿过样品后的散射强度为基础,并根据散射角度、极化度和入射X光波长对实验结果进行分析。X光散射技术可在许多不同的条件下进行分析,例如不同的温度或压力。
==X光衍射技术==
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