加速试验·统计模型试验设计与数据分析查看源代码讨论查看历史
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《加速试验·统计模型试验设计与数据分析》，[美] 韦恩·B.纳尔逊（Warne B.Nelson） 著，张正平，李海波 等 译，出版社： 中国宇航出版社。
读书，可以与时俱进，开阔自己，提高自己，充实自己，完善自己，是全球文化[1]科技知识扩容和更新的需要，是知识[2]经济和社会发展的要求。
内容简介
可靠性是产品质量和竞争力的重要保障，可靠性试验是保证和评估产品可靠性的有效手段。加速试验是通过提高试验应力水平来缩短试验周期的一种可靠性试验方法，它使长寿命产品的可靠性评定成为可能。
《加速试验：统计模型、试验设计与数据分析》是美国可靠性领域着名专家Wayne B.Nelson博士撰写的关于加速试验设计与数据统计分析方面的经典着作，系统介绍了加速试验的统计模型、试验方案设计方法和数据分析方法，并给出了大量的相关实例。该书有助于开展更高效的加速试验，获取更有效、准确的信息。
《加速试验：统计模型、试验设计与数据分析》不仅适用于可靠性工程师、统计人员，以及在产品的设计、研发、试验、制造、质量控制等过程中使用加速试验的工程技术人员，对高校教学和科研人员也有一定的参考价值。
作者介绍
Warne B.Nelson博士是加速试验数据和可靠性统计分析领域主要的专家之一。他目前担任多家公司的顾问，针对统计方法的不同工程和科研应用为企业提供咨询，开发了新的统计方法和计算机程序。Nelson博士为企业、高校和专业协会提供讲学、培训和研讨；Nelson博士还是一名鉴定人，并曾在通用电气公司研发部门从事应用咨询25年。
鉴于他在可靠性、加速试验方面的贡献，Nelson博士被选为美国统计协会会员（1973）、美国质量协会会员（1983）以及电气与电子工程师学会（IEEE）会员（1988）。由于他在产品可靠性与加速试验数据统计方法开发与应用方面的突出贡献，通用电气公司研发部为他颁发了1981年度Dushman奖。美国质量协会为表彰他杰出的技术领导与创新发展能力而授予他2003年度Shewhart奖。
Nelson博士已发表统计方法方面的学术论文120余篇，其中大部分都是关于工程应用的。由于发表的论文，他曾获1969年度Brumbaugh奖、1970年度Youden奖和1972年度Wilcoxon奖，以及所有美国质量协会的奖项。ASA为表彰他在国家联合统计会议上发表的高水平论文，已经授予他8次杰出表现奖。
1990年，他获得一个NIST/ASA/NSF高级研究奖学金资助，在美国国家标准与技术研究所合作研究微电子的电迁移失效模型。2001年，受Fulbright奖资助，他在阿根廷从事可靠性数据分析的研究和讲学工作。
1982年，Nelson博士完成专着Applied Lfe Data Analysis的撰写，并由Wiley出版社出版发行；1988年该书由日本科学家和工程师联合会翻译成日语出版。1990年，Wiley 出版社出版了他的标志性着作Accelerated Testing：Statistical Models，Test Plans，and Data Analyses。2003年，ASA-SIAM出版了他的着作Recurrent Events Data Analysis for Product Repairs，Disease Episodes，and Other Applications。他还参与了多本教科书和指导手册的编写，并为工程协会的标准建立做出了贡献。