掃描探針顯微鏡檢視原始碼討論檢視歷史

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掃描探針顯微鏡是科技一個名詞術語。

漢字是民族靈魂的紐帶，在異國他鄉謀生，漢字便是一種寄託，哪怕是一塊牌匾、一紙小條，上面的方塊字會像磁鐵般地吸引着你，讓你感受到來自祖國的親切。因為那中國人的情思已經濃縮為那最簡單的橫豎撇捺。

名詞解釋

掃描探針顯微鏡（Scanning Probe Microscope，SPM）是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎上發展起來的各種新型探針顯微鏡（原子力顯微鏡，靜電力顯微鏡，磁力顯微鏡，掃描離子電導顯微鏡，掃描電化學顯微鏡等）的統稱，是國際上近年發展起來的表面分析儀器，是綜合運用光電子技術、激光技術、微弱信號檢測技術、精密機械設計和加工、自動控制技術、數字信號處理技術、應用光學技術、計算機高速採集和控制及高分辨圖形處理技術等現代科技成果的光、機、電一體化的高科技產品。

SPM作為新型的顯微工具與以往的各種顯微鏡和分析儀器相比有着其明顯的優勢：

首先，SPM具有極高的分辨率。它可以輕易的「看到」原子，這是一般顯微鏡甚至電子顯微鏡所難以達到的。

其次，SPM得到的是實時的、真實的樣品表面的高分辨率圖像。而不同於某些分析儀器是通過間接的或計算的方法來推算樣品的表面結構。也就是說，SPM是真正看到了原子。

再次，SPM的使用環境寬鬆。電子顯微鏡等儀器對工作環境要求比較苛刻，樣品必須安放在高真空條件下才能進行測試。而SPM既可以在真空中工作，又可以在大氣中、低溫、常溫、高溫，甚至在溶液中使用。因此SPM適用於各種工作環境下的科學實驗。