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垂直显像SMI

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[[File:垂直显像SMI.jpeg|有框|右|<big>垂直显像SMI</big>[http://shixinhua.com/uploads/allimg/131014/2-131014153Q1.jpg 原图链接][http://shixinhua.com/lens/2013/10/909.html 来自 石鑫华视觉网 的图片]]]
 
垂直显像SMI是1996年在SMI与SPDM的基础上开发出来的,能在奈米等级上最快分析完整的3D细胞结构的光学显微镜,有效的奈米级光学分辨率,在解析2D图像能达到5 nm,而在解析3D图像能达到40 nm,所以比起以Abbe定律所算出来的物理极限200 nm还要更佳。 恩斯特·阿贝在1873年提出理论上光学显微镜的分辨率限制假说。
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