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透射电子显微镜
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由于电子的德布罗意波长非常短,透射电子显微镜的分辨率比 [[ 光学显微镜 ]] 高的很多,可以达到0.1~0.2 nm,放大倍数为几万~百万倍。因此,使用透射电子显微镜可以用于观察样品的精细结构,甚至可以用于观察仅仅一列原子的结构,比光学显微镜所能够观察到的最小的结构小数千倍。TEM在 [[ 物理学 ]] 和生物学等相关的许多科学领域中都是重要的分析方法,如癌症研究、 [[ 病毒学 ]] 、 [[ 材料科学 ]] 、以及 [[ 纳米技术 ]] 、半导体研究等等。
在放大倍数较低的时候,TEM成像的对比度主要是由于 [[ 材料 ]] 不同的厚度和成分造成对电子的吸收不同而造成的。而当放大率倍数较高的时候,复杂的波动作用会造成成像的亮度的不同,因此需要专业知识来对所得到的像进行分析。通过使用TEM不同的模式,可以通过 [[ 物质 ]] 的化学特性、晶体方向、电子结构、样品造成的电子相移以及通常的对电子吸收对样品成像。
第一台TEM由马克斯·克诺尔和恩斯特·鲁斯卡在1931年研制,这个研究团队于1933年研制了第一台分辨率超过可见光的TEM,而第一台商用TEM于1939年研制成功。