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一种反激式LED恒流驱动器具有检测功能的控制芯片目前，LED 恒流驱动器多采用反激式电路结构，其内部控制芯片主要包含供电及基准模块、电流采样及 PWM 产生模块、保护及控制采样模块和逻辑及驱动模块。随着芯片工艺提升，芯片面积不断下降，当芯片出货量足够大大的时候，单芯片的制造成本不断下降，传统芯片的测试技术由于 ATE 测试复杂度上升而升级，导致现有封装后的测试成本不断上升，增加芯片外围测试系统的复杂度。同时，传统的芯片测试由于采用全参数测试，这种方式需要较高的芯片测试成本和较长的时间周期；而对于 LED 驱动芯片而言，芯片良率可达 95％左右，实际上只需要对芯片内部关键参数测试，即可判定芯片的好坏。

简介

针对现有技术所存在的上述技术问题，本发明提供了一种反激式 LED 恒流驱动器具有检测功能的控制芯片，可以大大节省芯片的测试成本和测试周期。本发明通过对芯片外部引脚提供相应的输入信号，并根据测试结果，对芯片外部相应的引脚进行检测，即可得到测试结果；利用对芯片引脚的复用，可以在不额外增加芯片引脚数目的情况下，完成芯片内部重要指标的测试。

二、技术要点

（解决的技术难题、技术指标等）

本发明公开了一种反激式LED恒流驱动器具有检测功能的控制芯片，包括供电及基准模块、电流采样及PWM产生模块、保护及控制采样模块、逻辑及驱动模块和测试模块；测试模块包括偏置电流检测电路、使能信号TM_true生成电路、标志位生成电路、电压选择信号生成电路和基准电压检测电路。本发明通过对芯片外部引脚提供相应的输入信号，并根据测试结果，对芯片外部相应的引脚进行检测，即可得到测试结果；相对于现有技术，本发明不再需要进行全参数的测试，降低了芯片的测试成本，简化了测试方法，这样大大节省了芯片测试的成本与周期。反激式 LED恒流驱动器具有检测功能的控制芯片，包括供电及基准模块、电流采样及 PWM 产生模块、保护及控制采样模块和逻辑及驱动模块；所述的测试模块包括 ： 偏置电流检测电路，采集供电及基准模块产生的一路基准电压，使之与给定的偏置电压VTM进行比较，生成使能信号Test_en ；进而根据使能信号Test_en 生成与供电及基准模 块中的基准电流成比例的电流信号 ITM作为检测结果输出 ； 使能信号 TM_true 生成电路，接收测试输入的时钟信号 CLK，根据时钟信号 CLK 控制生 成幅值为芯片供电电压 VDA 的使能信号 TM_true ； 标志位生成电路，接收测试输入的时钟信号 VSTP，通过使之与电源电压 VDD 进行比较，输出标志位时钟信号 Test_flag ； 电压选择信号生成电路，对标志位时钟信号 Test_flag 进行分频，产生两路电压选择信号 sel0 ～ sel1 ； 基准电压检测电路，根据两路电压选择信号 sel0 ～ sel1 从供电及基准模块产生的各 路基准电压中选择其中一路作为待测基准电压，进而根据使能信号 TM_true 生成与该待测 基准电压成比例的电压信号 VCOMP作为检测结果输出。

三、成果形式

（专利、著作权、新产品、新技术等）

专利

四、应用领域及应用场景

用于芯片的检测

五、当前应用成效

目前该技术已经具备一定的应用规模，应用效果表明，相对于现有技术而言，本发明不再需要进行全参数的测试，降低了芯片的测试成本，简化了测试方法，这样大大节省了芯片测试的时间周期；通过对于芯片内部测试电路的设计以及测试后数字电路的修调，可以大大节省芯片在大圆片测试阶段的测试成本与测试周期。同时，本发明芯片测试电路可移植性较强，测试电路也可用于不同的 LED 驱动芯片， 以实现对于关键参数的检测。

六、应用推广的领域和场景

广泛应用于通信、电子、机械、航空航天等各领域

七、应用推广的价值和前景

（产业带动能力、效率提升能力、市场规模等）

随着智能化技术的推广应用，芯片的质量检测的需求是刚性的，该技术具有良好的可推广价值，应用领域广阔。

八、技术优化的方向和途径

对技术进行固化，形成标准成品，并针对不同行业和应用场景进行个性开发。