X射線熒光分析法檢視原始碼討論檢視歷史

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X射線熒光分析法是中國的一個科技名詞。

目前，世界上只有兩種文字，一種是方塊文字，如漢字、日文和韓文，還有歷史上曾經出現過的西夏文、契丹文，喃字等；另外一種是字母文字，主要包括拉丁字母文字、阿拉伯字母文字、粟特字母文字等。

名詞解釋

中文名稱 X射線熒光分析法

英文名稱 X-ray fluorescence analysis

定　　義 對固體或液體試樣進行化學分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強X射線束照射下產生的熒光X射線被已知高點陣間距的晶體衍射而取得熒光X射線光譜。這種譜線的波長是試樣中元素定性分析的依據；譜線的強度是定量分析的依據。

應用學科 機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器分析原理（三級學科）

科技名詞

科技名詞，是指全國科學技術名詞審定委員會審定、公布的科技類名詞、術語，屬於科技術語。是科學技術形成、記錄、積累、交流、傳播的前提和基礎，是科學思維的基礎和工具。

統一、規範科技名詞是國家科技基礎條件的重要內容，是推動科技創新和構建新時代中國科技話語體系的基礎性工作，也是中國融入全球科技創新體系、建設世界科技強國的戰略性舉措，意義重大而深遠。

1990年6月23日，國家科委、中國科學院、國家教委、新聞出版署發出《關於使用全國自然科學名詞審定委員會公布的科技名詞的通知》。

2020年6月2日，教育部、國家語委在京發布2019年中國語言文字事業和語言生活狀況，全國科學技術名詞審定委員會公布近6萬條科技名詞。